Refrigeration Engineering and Technology

ISSN-print: 0453-8307
ISSN-online: 2409-6792
ISO: 26324:2012
Архiви

МОДЕЛЬ ВЗАИМОСВЯЗИ ГЕОМЕТРИИ ВЕТВЕЙ ТЕРМОЭЛЕМЕНТОВ И ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ДВУХКАСКАДНОГО ОХЛАДИТЕЛЯ В РЕЖИМЕ Q0max

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

Ю. И. Журавлев

Анотація

Рассмотрено влияние геометрии ветвей термоэлементов в каскадах при (l/S)1 = (l/S)2 на показатели надежности двухкаскадных термоэлектрических охлаждающих устройств для различных перепадов температуры ∆T = 60; 70; 80; 90 К для отношения высоты термоэлемента к площади l/S = 40; 20; 10; 4,5; 2,0, тепловой нагрузке Q0 = 2,0 Втв режиме максимальной холодопроизводительности Q0max при последовательном электрическом соединении каскадов. Показано, что с уменьшением отношения l/S в каскадах двухкаскадного термоэлектрического охладителя для различных перепадов температуры ∆T и фиксированной тепловой нагрузке Q0  уменьшается интенсивность отказов λ, а, следовательно, увеличивается вероятность безотказной работы P.
Ключові слова:
Для цієї мови відсутні ключові слова

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Як цитувати
Журавлев, Ю. И. (2017). МОДЕЛЬ ВЗАИМОСВЯЗИ ГЕОМЕТРИИ ВЕТВЕЙ ТЕРМОЭЛЕМЕНТОВ И ПОКАЗАТЕЛЕЙ НАДЕЖНОСТИ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ДВУХКАСКАДНОГО ОХЛАДИТЕЛЯ В РЕЖИМЕ Q0max. Refrigeration Engineering and Technology, 53(2). https://doi.org/10.15673/ret.v53i2.599
Розділ
АВТОМАТИКА, КОМП’ЮТЕРНІ ТА ТЕЛЕКОМУНІКАЦІЙНІ ТЕХНОЛОГІЇ

Посилання

1. Zebarjadi, M., Esfarjani K., Dresselhaus, M. S., Ren, Z. F., Chen, G. (2012). Perspectives on thermoelectrics: from fundamentals to device applications. Energy & Environmental Science, 5, 5147–5162.

2. Ping Yang. (2010). Approach on thermoelectricity reliability of board-level backplane based on the or-thogonal experiment design. International Journal of Materials and Structural Integrity, 4(2–4), 170–185. DOI: https://doi.org/10.1504/ijmsi.2010.035205

3. Singh R. (2008). Experimental Characterization of Thin Film Thermoelectric Materials and Film Deposition VIA Molecular Beam Epitaxy. University of California, 54.

4. Sootsman J. R., Chung D. Y., Kanatzidis M. G. (2009). New and Old Concepts in Thermoelectric Materials. Angewandte Chemie International Edition, 48 (46), 8616–8639.

5. Zaikov V.P., Meshcheryakov V.I., Zhuravlev Yu. I. (2016). Prediction of thermo-electric cooling devicesreliability indices. Book 2. Cascade devices. Odessa: Polytechperiodica, 124.

6. Zaykov, V. P., Kinshova, L. A., Moiseev, V. F. (2009). Prediction of reliability on thermoelectric cooling devices. KN.1 Single-stage devices. Odessa: Politehperiodika, 120.